DongGuan Q1-Test Equipment Co., Ltd.
Fournisseur professionnel d'équipement d'essai climatique
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Équipement métallographique multifonctionnel de préparation témoin avec la section coupée 65mm
Aperçu de produit :
découpeuse iCut-404 multifonctionnelle principalement utilisée pour couper le cylindre et les échantillons anormaux de forme, tels que la forme multi-angulaire, le conseil saillant, etc. Elle adopte la structure de tout-cachetage, qui peut garantir l'échantillon de coupe dans les conditions de la sécurité absolue.
Afin d'éviter des dommages de structure metallographical témoin pendant la coupe, le système de refroidissement fort vient avec le coupeur, et peut augmenter la section transversale de coupe, soulevant la disponibilité de la roue à émeri de coupe.
Le coupeur a les avantages de facile à utiliser, employer, maintiennent, etc., qui est un excellent équipement de couper des formes anormales.
Paramètres principaux :
| Section de coupe | 65 x 65mm |
| Vitesse de rotation | 2800rpm |
| Roue de coupe | 250 x 1,5 x 32mm |
| Moteur | 1.1KW, AC380V/50Hz/3Ph |
| Dimension | 870 x 590 x 1110mm |
| Poids net | 350Kg |
Coupeur de spécimen :
En coupant un spécimen d'un plus grand morceau, le soin doit être pris pour s'assurer que c'est représentant des caractéristiques trouvées dans l'échantillon plus grand, ou qu'il contient toute l'information exigée pour étudier une caractéristique d'intérêt.
Un problème est que la préparation du spécimen peut changer la microstructure du matériel, par exemple par le chauffage, l'attaque chimique, ou les dommages mécaniques. La quantité de dommages dépend de la méthode par laquelle le spécimen est coupé et le matériel lui-même.
La coupure avec des abrasifs peut endommager beaucoup, alors que l'utilisation d'un diamant à vitesse réduite voyait peut diminuer les problèmes. Il y a beaucoup de différentes méthodes de coupe, bien que certains soient employés seulement pour les types spécifiques de spécimen. l'iqualitrol fournit la scie à vitesse réduite du diamant iCut-864 pour couper le spécimen d'OM (microscope optique), de SEM (microscope à balayage électronique), et même de TEM (microscope électronique de transmission).