Microscope métallurgique de XJP-158J
Le microscope métallurgique de XJP-158J est développé et a visé l'industrie de semi-conducteur, fabrication de gaufrette, industrie de données informatisées, industrie métallurgique, utilisée comme microscope métallurgique avancé, l'utilisateur peut éprouver sa représentation superbe en utilisant le. Il peut être très utilisé pour identifier et analyser le semi-conducteur, FPD, encapsulation de circuit, substrat de circuit, matériel, moulage/métal/pièces en céramique, moules de précision. Cet instrument adopte chacun des deux qui se reflètent et l'illumination transmise, le champ de Bright&Dark, le DIC et l'observation de polarisation
peut procéder sous l'illumination se refléter, et l'observation lumineuse de champ est faite sous la lumière transmise. Le système optique de haute qualité et fiable apporte une image beaucoup plus claire et plus pointue. La conception répond aux besoins ergonomiques et vous incite à se sentir confortable et décontracté en réalisant votre travail
Caractéristiques et description
1. Adoptez la haute résolution d'UIS, la longue distance de fonctionnement, et le chemin léger d'infini
correction de la technologie de l'image d'objectif de système
2. Élargissement de la technologie de multiplexage de l'infini objectif et compatible
objectif avec toutes les méthodes d'observation, y compris le champ de bright&dark
l'observation, la polarisation et le DIC fournissent également en haut clair et pointu
image dans chaque méthode d'observation.
3. Illumination extérieure asphérique de Kohler, augmentant l'éclat de visionnement.
4. Oculaire large superbe de champ de visionnement de WF10× (Φ25), longue distance de fonctionnement
objectif métallurgique avec le champ lumineux et foncé
5. Le Nosepiece peut être équipé de l'interférence détachable de différentiel de DIC
dispositif.
| Spécifications |
| Tête de visionnement |
Tête libre de Trinocular de compensation, 30° incliné (50mm-75mm) |
| Oculaire |
WF10×/25mm |
| WF10×/20mm, réticule avec le réticule 0.1mm |
| Objectif |
Longs objectifs du champ Infinity.Plan de bright&dark de distance de fonctionnement :
5×/0.1B.D/W.D.29.4mm, 10×/0.25B.D/W.D.16mm,
20×/0.40B.D/W.D.10.6mm, 40×/0.60B.D/W.D.5.4mm,
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| Nosepiece |
Avec le Nosepiece quadruple de DIC Jack |
| Étape |
Étape mécanique de double couche |
| Taille d'étape : 189mm×160mm |
| Gamme mobile : 80mm×50mm |
| Filtre |
Type filtres (vert de Flashboard, bleu, neutre) |
| Condensateur |
Condensateur d'Abbe N.A.1.25 avec le diaphragme et le filtre d'iris |
| Focalisation |
Ajustement de focalisation de &fine brut coaxial avec le mécanisme de support et de pignon. Très bien
valeur d'échelle de focalisation 0.002mm
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| Source lumineuse |
Illumination de transmission : Ampoule d'halogène 12V/50W, AC85V-230V, éclat réglable |
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Epi-illumination : Avec le diaphragme d'iris d'ouverture et le diaphragme d'iris de champ, halogène
Ampoule 12V/50W, AC85V-230V, éclat réglable
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| Dispositif de polarisation |
L'analyseur 360°rotatable, polariseur et analyseur peut être déplacé hors du chemin léger |
| Vérification de l'outil |
micromètre de 0.01mm |
| Accessoire facultatif |
Logiciel bidimensionnel de mesure |
| Logiciel d'analyse d'image métallurgique professionnel |
| Epi-illumination : Ampoule d'halogène 12V/100W, AC85V-230V, éclat réglable |
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Champ lumineux et foncé Planobjectives infini de longue distance de fonctionnement :
50×/0.55B.D/W.D.5.1mm, 80×/0.75B.D/W.D.4mm, 100×/0.80B.D/W.D.3mm
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| oculaire de micromètre |
| 1.3Mega, 2,0 mégas, 3,0 mégas, 5,0 oculaires méga d'appareil photo numérique des pixels CMOS |
| Adaptateur 0.5×, 0.57×, 0.75× de CCD d'attachmentand de photographie |
| DIC (10×, 20×, 40×, 100×) |
| Outil Planishing |
| La caméra CCD, colorent 1/3 des lignes de la haute résolution 520 TV de ″ |
