Guide des prises de test des semi-conducteurs
Vue d'ensemble du produit
Le guide des prises de test des semi-conducteurs est conçu pour fournir des performances constantes sur des milliers d'insertions de test.empêche l'actionnement hors axe pouvant entraîner une force de contact inégale ou une usure prématurée de la sonde. Des trous de guidage précision avec des conduites chanfrées et des profils de dégagement optimisés assurent une compression en douceur des broches pogo.et une fiabilité supérieure dans les environnements ATE à haut débit.
Surface et finition
- Les canaux de contact:Ra ≤ 0,2 μm (finition miroir)
- Surfaces sans contact:Ra ≤ 0,8 μm
- Pour le Burr-Free:Les bords microdécoupés, conformes à la norme ISO 13715
Options de revêtements et de revêtements de protection
- Anodisation à couche dure (aluminium)
- Nickel sans électro (50-100 μin)
- Flash d'or (0,1-0,3 μin) pour une conductivité améliorée
Propreté et emballage
- Emballages de salle blanche de la classe 100
- Résidus non volatils < 5 μg/cm2
- Option sans ions disponible
Certifications
ISO 9001:2015 -- IPC-9592 (Haute fiabilité) -- MIL-STD-883 Il est très facile de trouver une solution pour un problème de qualité.
Les avantages techniques
- Fabriqués à partir de polymères ou de composés remplis de céramique pour la résistance à la distorsion thermique
- Maintient la stabilité dimensionnelle à des températures > 150 °C pendant les procédures de HTOL et de combustion
- Prévient la déformation, le désalignement ou la désengagement de la sonde sous le cycle thermique
- Conçus pour des insertions > 100 000 avec des composites de haute dureté et des matériaux résistants à l'abrasion
- Les charges en PTFE ou les revêtements à film sec réduisent le frottement, les irritations et la production de particules.
Avec son ingénierie de précision, le guide des prises de test de semi-conducteurs assure l'intégrité dimensionnelle, la durabilité à long terme,et résultats fiables des essais, même dans des conditions mécaniques et thermiques difficiles.
