XIAMEN POWERWAY A AVANCÉ CIE. MATÉRIELLE, LTD.

XIAMEN POWERWAY ADVANCED MATERIAL CO., LTD.

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10*10mm2 U-GaN GaN Single-Crystal Substrate libre

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Ville:xiamen
Province / État:fujian
Pays / Région:china
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10*10mm2 U-GaN GaN Single-Crystal Substrate libre

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Brand Name :PAM-XIAMEN
Place of Origin :China
MOQ :1-10,000pcs
Price :By Case
Payment Terms :T/T
Supply Ability :10,000 wafers/month
Delivery Time :5-50 working days
Packaging Details :Packaged in a class 100 clean room environment, in single container, under a nitrogen atmosphere
Item :PAM-FS-GAN-50-U
product name :Freestanding GaN Substrate
Conduction Type :N-type
Dimension :10 x 10.5 mm2
Thickness :350 ±25 µm 430±25 µm
other name :GaN Wafer
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substrat libre de 10*10mm2 U-GaN GaN

 

PAM-XIAMEN a établi la technologie manufacturière pour (nitrure de gallium) la gaufrette libre de substrat de GaN qui est pour UHB-LED et LD. Développé par technologie de (HVPE) d'épitaxie de phase vapeur d'hydrure, notre substrat de GaN a la basse densité de défaut et moins ou la macro densité libre de défaut.

 

PAM-XIAMEN offre la gamme complète de GaN et matériaux relatifs d'III-N comprenant des substrats de GaN de diverses orientations et conductivité électrique, calibres de crystallineGaN&AlN, et epiwafers faits sur commande d'III-N.

 

 

Montre ici des spécifications de détail :

 

substrat libre de 10*10mm2 U-GaN GaN

 

Article PAM-FS-GaN-50-U
Dimension 10 x 10,5 millimètres2
Épaisseur 350 ±25 µm du µm 430±25
Orientation Avion de C (0001) outre d'angle vers le M-axe 0,35 ±0.15°
Type de conduction de type n
Résistivité (300K) < 0,1 Ω·cm
TTV µm du ≤ 10
ARC -10 µm du ≤ 10 d'ARC de ≤ de µm
Aspérité :

Partie antérieure : Ra<0.2nm, epi-prêt ;

Arrière : La terre fine ou poli.

Densité de dislocation De 1 de x 105 à 5x 106 cm-2 (calculé par le CL) *
Macro densité de défaut 0 cm2
Secteur utilisable > 90% (exclusion de bord)

 

Paquet

chacun dans le conteneur simple de gaufrette, sous l'atmosphère d'azote, emballée dans la pièce propre de la classe 100

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

substrat libre de 10*10mm2 U-GaN GaN

Le substrat de GaN de PAM-XIAMEN (nitrure de gallium) est substrat monocristallin avec de haute qualité, qui est fait avec la méthode originale de HVPE et la technologie transformatrice de gaufrette. Elles sont uniformité haut cristalline et bonne, et qualité extérieure supérieure. Des substrats de GaN sont employés pour beaucoup de genres de demandes, de LED blanche et de LD (violet, bleu et vert), en outre le développement a progressé pour des applications d'appareil électronique de puissance et de haute fréquence.

 

La technologie de GaN est employée dans de nombreuses applications de haute puissance telles que les alimentations industrielles, du consommateur et de serveur d'énergie, la commande solaire, à C.A. et les inverseurs d'UPS, et les voitures hybrides et électriques. En outre, GaN approprié idéalement aux applications de rf telles que les stations de base, les radars et l'infrastructure cellulaires TV par câble dans la mise en réseau, des secteurs d'espace et de défense, grâce à sa haute résistance de panne, figure à faible bruit et des linéarités élevées.

 

 

RAPPORT de Matériel-ESSAI de basculage de courbes-GaN de XRD

 

Un rapport des essais est nécessaire pour montrer la conformité entre la description faite sur commande et nos données finales de gaufrettes. Nous examinerons le characerization de gaufrette par l'équipement avant l'expédition, examinant l'aspérité au microscope atomique de force, le type par l'instrument romain de spectres, la résistivité par l'équipement de non contact d'essai de résistivité, la densité de micropipe au microscope de polarisation, l'orientation par le rayon X Orientator etc. si les gaufrettes répondent à l'exigence, nous nettoierons et les emballer dans la pièce propre de 100 classes, si les gaufrettes n'assortissent pas Spéc. de coutume, nous l'enlèverons.

 

La moitié-taille de grande largeur (FWHM) est une expression de la gamme des fonctions indiquées par la différence entre deux valeurs extrêmes de la variable indépendante égale à la moitié de son maximum. En d'autres termes, c'est la largeur de la courbe spectrale mesurée entre ces points sur l'axe des y, qui est moitié de l'amplitude maximum.

 

Est ci-dessous un exemple des courbes de basculage de XRD du matériel de GaN :

 

10*10mm2 U-GaN GaN Single-Crystal Substrate libre

 

Courbes de basculage de XRD de matériel de GaN

 
Mots clés du produit:
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