Platine d'échantillon SEM GoGo SCH200 avec intégration non invasive, excellent blindage EMI et plage de température de -190 °C à 200 °C Nom du produi....

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Étape d'échantillonnage SEM

Étape de chauffage du microscope

Étape de refroidissement de chauffage

Étape de la sonde

Station de sonde

Platine du microscope Peltier

Étape de traction

Étape d&#39;échantillonnage XRD

Étape d&#39;échantillonnage SEM

Étape de traction SEM

Équipement d&#39;observation à haute température

Système de test in situ

Chauffe-gaufrette

Étape d'échantillonnage SEM

Platine chauffante et refroidissante à cinq axes pour microscope électronique à balayage (MEB) avec contrôle de température dans le système FIB / MEB

Platine d'échantillon SEM Cryo / Chauffage, Platine d'échantillon de microscope multi-modes avec intégration non invasive

Étape d'échantillonnage XRD

Étape d'échantillonnage SEM

Équipement d'observation à haute température