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Température de stockage élevée -55-150 de densité de cellules de bâti de surface de transistors de série de l'astuce B772

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Shenzhen Hua Xuan Yang Electronics Co. , Ltd
Ville:shenzhen
Province / État:guangdong
Pays / Région:china
Contact:MrDavid Lee
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Température de stockage élevée -55-150 de densité de cellules de bâti de surface de transistors de série de l'astuce B772

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Point d'origine :Shenzhen en Chine
Quantité d'ordre minimum :1000-2000 PCs
Détails d'emballage :Enfermé dans une boîte
Délai de livraison :1 - 2 semaines
Conditions de paiement :L/C T/T Western Union
Capacité d'approvisionnement :18,000,000PCS/par jour
Numéro de type :B772
Courant de collecteur - continu :3A
VCEO :30V
VCBO :40V
Nom du produit :type de triode de semi-conducteur
TJ :150℃
Type :Transistor de triode
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TO-126 Plastique-encapsulent le TRANSISTOR des transistors D882 (NPN)

 

CARACTÉRISTIQUE
 

Dissipation de puissance

 

 

REPÉRAGE

Code de D882=Device

Point solide = vert moulant le dispositif composé, si aucun, le dispositif normal XX=Code

 

Température de stockage élevée -55-150 de densité de cellules de bâti de surface de transistors de série de l'astuce B772

 

 

L'INFORMATION DE COMMANDE

Numéro de la pièce Paquet Méthode d'emballage Quantité de paquet
D882 TO-126 Le volume 200pcs/Bag
D882-TU TO-126 Tube 60pcs/Tube


 

 

 

 

ESTIMATIONS MAXIMUM (Tun =25 Š sauf indication contraire)

 

Symbole Paramètre Valeur Unité
VCBO Tension de collecteur-base 40 V
VCEO Tension de collecteur-émetteur 30 V
VEBO Tension d'Émetteur-base 6 V
IC Courant de collecteur - continu 3 A
PC Dissipation de puissance de collecteur 1,25 W
TJ La température de jonction 150
Tstg Température de stockage -55-150

 

 

 

 


CARACTÉRISTIQUES ÉLECTRIQUES

 

 

Merci =25 Š sauf indication contraire


 

Paramètre Symbole Conditions d'essai Minute Type Maximum Unité
Tension claque de collecteur-base V (BR) CBO IC = 100μA, C.-À-D. =0 40     V
Tension claque de collecteur-émetteur PRÉSIDENT V (DE BR) IC = 10mA, IB=0 30     V
tension claque d'Émetteur-base V (BR) EBO C.-À-D. = 100μA, IC=0 6     V
Courant de coupure de collecteur ICBO VCB= 40 V, C.-À-D. =0     1 µA
Courant de coupure de collecteur ICEO VCE= 30 V, IB=0     10 µA
Courant de coupure d'émetteur IEBO VEB= 6 V, IC=0     1 µA
Gain actuel de C.C hFE VCE= 2 V, IC= 1A 60   400  
Tension de saturation de collecteur-émetteur VCE (reposé) IC= 2A, IB= 0,2 A     0,5 V
Tension de saturation d'émetteur de base VBE (reposé) IC= 2A, IB= 0,2 A     1,5 V

 

Fréquence de transition

 

fT

VCE= 5V, IC=0.1A

f =10MHz

 

 

90

 

 

Mégahertz

             

 
  

CLASSIFICATION DEFede h(2)

Rang R O Y LE GR
Gamme 60-120 100-200 160-320 200-400

 

 

 


Caractéristiques typiques

Température de stockage élevée -55-150 de densité de cellules de bâti de surface de transistors de série de l'astuce B772Température de stockage élevée -55-150 de densité de cellules de bâti de surface de transistors de série de l'astuce B772Température de stockage élevée -55-150 de densité de cellules de bâti de surface de transistors de série de l'astuce B772Température de stockage élevée -55-150 de densité de cellules de bâti de surface de transistors de série de l'astuce B772

 

 

 Dimensions d'ensemble de paquet
 

Symbole Dimensions dans les millimètres Dimensions en pouces
  Minute Maximum Minute Maximum
A 2,500 2,900 0,098 0,114
A1 1,100 1,500 0,043 0,059
b 0,660 0,860 0,026 0,034
b1 1,170 1,370 0,046 0,054
c 0,450 0,600 0,018 0,024
D 7,400 7,800 0,291 0,307
E 10,600 11,000 0,417 0,433
e 2,290 TYPE 0,090 TYPES
e1 4,480 4,680 0,176 0,184
h 0,000 0,300 0,000 0,012
L 15,300 15,700 0,602 0,618
L1 2,100 2,300 0,083 0,091
P 3,900 4,100 0,154 0,161
Φ 3,000 3,200 0,118 0,126

 

 

Température de stockage élevée -55-150 de densité de cellules de bâti de surface de transistors de série de l'astuce B772

 

 

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